Chipkill, 또는 Chipkill-correct는 DRAM의 신뢰성을 높이기 위해 설계된 메모리 오류 수정 기술입니다.
이는 전통적인 ECC보다 더 높은 수준의 보호를 제공하여 단일 메모리 칩 내 또는 여러 메모리 칩에 걸친 다중 비트 오류를 수정합니다.
DRAM 칩에서 wordline failure가 발생할 경우 메모리 셀의 전체 Row에 영향을 미쳐, Die 전체가 사용할 수 없을 정도로 상당한 데이터 부분이 손상되는 die failure로 이어질 수 있습니다. Wordline failure는 종종 burst errors를 초래합니다. Burst error는 연속적으로 발생하는 손상된 데이터 비트의 연속으로, 일반적으로 하나의 단어 내 또는 여러 메모리 셀에 걸쳐 여러 비트를 손상시킵니다. 이는 주로 단일 비트 오류를 수정하는 전통적인 ECC로는 수정하기 어렵습니다.
Die failure로 인한 burst error의 복잡하고 심각한 오류를 해결하려면 더 강력한 오류 수정 메커니즘이 필요합니다. Chipkill 기술은 다중 비트 오류 및 전체 칩 실패까지 처리할 수 있는 고급 오류 수정 기능을 제공합니다.
Chipkill 기술은 다음과 같이 작동합니다:
데이터 및 패리티 비트 분산: 데이터와 추가 패리티 또는 ECC 비트가 칩 간 오류 수정을 가능하게 하기 위해 여러 칩으로 분산됩니다. 서로 다른 칩에서 비트가 손상되면, 시스템은 패리티 또는 ECC 정보를 사용하여 올바른 데이터를 재구성합니다.
높은 수준의 정정 알고리즘: Chipkill을 구현하려면 메모리 컨트롤러와 메모리 모듈 모두에서 지원이 필요하며, BCH(Bose-Chaudhuri-Hocquenghem) 코드 및 RS(Reed-Solomon) 코드와 같은 높은 수준의 정정 알고리즘을 처리하는 추가적인 복잡성이 요구됩니다. 이러한 알고리즘은 ECC/패리티 정보를 디코딩하고 여러 칩에 걸쳐 오류를 수정합니다.
MetisX의 컴퓨팅 메모리 솔루션은 두 개의 메모리 Die failure를 수정할 수 있는 Double-die Chipkill correction을 지원합니다. 이 강력한 RAS 기능은 신뢰할 수 있고 효율적인 메모리 성능을 제공하며, 결함 허용성을 높이고 데이터 무결성을 향상시킵니다.
Metis Insights에 더 많은 기술적 Insight를 계속 제공할 예정이니, 다음 번에 더 심도 있는 지식을 기대해 주세요.
Metis Insight #3
Chipkill, 또는 Chipkill-correct는 DRAM의 신뢰성을 높이기 위해 설계된 메모리 오류 수정 기술입니다.
이는 전통적인 ECC보다 더 높은 수준의 보호를 제공하여 단일 메모리 칩 내 또는 여러 메모리 칩에 걸친 다중 비트 오류를 수정합니다.
DRAM 칩에서 wordline failure가 발생할 경우 메모리 셀의 전체 Row에 영향을 미쳐, Die 전체가 사용할 수 없을 정도로 상당한 데이터 부분이 손상되는 die failure로 이어질 수 있습니다. Wordline failure는 종종 burst errors를 초래합니다. Burst error는 연속적으로 발생하는 손상된 데이터 비트의 연속으로, 일반적으로 하나의 단어 내 또는 여러 메모리 셀에 걸쳐 여러 비트를 손상시킵니다. 이는 주로 단일 비트 오류를 수정하는 전통적인 ECC로는 수정하기 어렵습니다.
Die failure로 인한 burst error의 복잡하고 심각한 오류를 해결하려면 더 강력한 오류 수정 메커니즘이 필요합니다. Chipkill 기술은 다중 비트 오류 및 전체 칩 실패까지 처리할 수 있는 고급 오류 수정 기능을 제공합니다.
Chipkill 기술은 다음과 같이 작동합니다:
MetisX의 컴퓨팅 메모리 솔루션은 두 개의 메모리 Die failure를 수정할 수 있는 Double-die Chipkill correction을 지원합니다. 이 강력한 RAS 기능은 신뢰할 수 있고 효율적인 메모리 성능을 제공하며, 결함 허용성을 높이고 데이터 무결성을 향상시킵니다.
Metis Insights에 더 많은 기술적 Insight를 계속 제공할 예정이니, 다음 번에 더 심도 있는 지식을 기대해 주세요.